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一本可让读者进行实际操作的集成电路测试参考书

2021-12-10 14:34:09
无论是前摩尔时代芯片集成度的提升,还是后摩尔时代系统级封装的趋势,集成电路测试在整个产业链中的地位越来越重要。设计方案需要全面快速的验证,人们才能推出符合功能需求的产品。大规模生产需要高效率,符合质量要求的芯片只有经过高故障覆盖率的测试才能到达终端用户。可以说,IC测试是芯片交付应用前的最后一道关口,是芯片质量的保证,其重要性不言而喻。
近年来,我国信息产业对“食品级”集成电路芯片的需求日益增加,集成电路年进口额超过3000亿美元。在这种需求的推动下,国内对替代芯片的需求正在蓬勃发展。随着整个半导体行业的快速发展,对专业人才的需求也越来越迫切,尤其是芯片测试行业,尤其缺乏经验丰富的工程师。另一方面,大学里有很多基础学科,比如半导体材料、制造技术、集成电路设计等。但很少有人听说过集成电路测试。即使有,也很可能只是IC专业的选修课。即使对于IC测试从业者来说,也只有很少的人接受过系统的培训,很多人拿着测试设备厂商提供的手册在摸索前进。目前,国内关于集成电路测试的教材大多侧重于理论,如故障覆盖模型的计算或可测性设计,缺乏对测试工程师和技术人员将方法与实践相结合的指导。
有鉴于此,国内SoC测试设备提供商,加速技术应用工程与产品团队的小伙伴,希望为ic测试提供一本参考书,让读者可以用自己的经验和高性能的SoC测试设备进行实际操作。
《集成电路测试指南》应运而生。本书涵盖了数字、模拟和混合信号芯片等主要类型集成电路的测试,将集成电路的测试原理与工程实践、测试方法和测试设备相结合。
观众
1.想成为或将成为集成电路测试工程师的读者。
2.从事集成电路测试的工程技术人员。
3.集成电路产品工程师
4.设计工程师
内容简介
本书将半导体集成电路的测试原理与实际测试实施过程相结合,涵盖了半导体集成电路的测试过程,集成运算放大器、电源管理芯片、电可擦可编程只读存储器芯片、微控制器芯片、数模转换芯片等产品的测试原理和测试实例。这本书的特点是理论与实践相结合,避免“纸上谈兵”。通过学习本书,读者可以对集成电路测试有一个全面的了解,从而快速进入半导体集成电路测试工程领域。
作者简介
加速技术基于FPGA设计、高速通信技术、高性能数字信号处理技术和高精度模拟技术,将相关技术应用于半导体测试领域,是行业内领先的混合信号测试设备提供商。公司推出国内首个自主研发的250Mbps及以上高性能数模混合信号测试系统解决方案,实现了国产替代,将国产数字测试系统推向新的水平,助力SMIC。加速技术团队是一个年轻而充满激情的团队,拥有扎实的技术技能。团队成员坚持以客户为导向的原则,以成就客户为己任,努力在半导体测试领域为中国芯片行业贡献力量。
内容详细信息
本书共分五章(共10章)介绍IC测试的概念和知识,重点是芯片验证和量产。
第一章由第一章和第二章组成,从测试流程和相关设备入手,试图给读者一个IC测试的整体概念。第一章主要介绍集成电路测试程序的分类、流程、测试项目和发展。在第二章中,我们过渡到“武器”——自动集成电路测试系统的组成架构,帮助我们完成测试,并全面desc
第二章由第3 ~ 5章组成,主要阐述集成电路自动测试的原理。第三章是DC参数测试,主要介绍数字电路DC参数测试的原理。一些参数的测试方法也适用于模拟集成电路的参数测量,如DC偏置、增益、输出电压稳定性等测试方法。第四章介绍了数字集成电路测试的各种基础知识和设置方法,主要包括测试向量、时序和引脚级别。此外,还给出了用功能模式测试开路和短路的方法。第五章以数模/模数转换集成电路为基础,尝试向读者普及混合信号集成电路测试的相关概念和方法,包括信号的时域和频域表示、采样定理等概念。混合信号集成电路测试是一种“高级”测试,通常是测试工程师的一个难点。
从第三章到工程实践部分,本章包括集成运算放大器(第六章)和电源管理芯片(第七章)的测试原理和实现方法。通过本次研究,读者可以掌握通用模拟芯片的测试方法。
第四章是数字集成电路的具体实践。我们选择了市场上应用需求较大的存储芯片(第八章)和微控制器芯片(第九章),并向读者讲述了它们的测试项目以及如何使用相关的测试资源。
最后,通过第五章、第十章,试图让读者了解混合信号测试的实施,为后续的推进打下坚实的基础。
本书的主要读者是想成为或即将成为集成电路测试工程师的读者。我们假设读者已经学习了相应的基础课程,主要包括电路分析、模拟电子技术、数字电子技术、信号与系统、数字信号处理和计算机编程语言。通过学习本书,读者将对半导体集成电路测试有一个大致的了解,能够掌握可以直接应用到工作中的实战技术,从而以“技”入道。本书对从事过集成电路测试的工程技术人员、集成电路产品工程师和设计工程师也有一定的参考意义。

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