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Microchip推出53100A型相位噪声分析仪,助力更精确表征各种振

2020-11-10 15:15:20
微芯片技术公司(美国微芯技术公司)今天发布了新一代相位噪声分析仪产品型号53100A。这种相位噪声测量仪可以帮助研究人员和制造工程师更准确地测量频率信号,包括原子钟产生的信号和其他高频参考模块和子系统产生的信号。
新推出的53100A相位噪声分析仪是专门为工程师和研究人员开发的。他们的工作依赖于对来自5G网络、数据中心、商用和军用飞机、航天器、通信卫星以及测量和测试应用的频率信号的精确测量。这种新型测试仪可以检测高达200兆赫的射频信号,快速捕获频率信号,并快速准确地表征相位噪声、频率抖动、艾伦偏差(ADEV)和时间偏差。只需要一个分析仪和几分钟来表征感兴趣频率的所有特征。
53100A型相位噪声分析仪支持多种配置,可以用一个参考信号同时检测三个不同的待测信号,提高了测试能力和稳定性。该设备体积小,只有344 x  215 x  91毫米(13.5 x  8.5 x  3.6英寸)。它可以很容易地集成到各种自动测试设备(ATE)系统中,并具有足够强的测量能力,能够胜任实验室级的测量和测试。53100A分析仪的接口向后兼容性与微芯片的51xxA系列测试套件共享相同的命令和数据流,从而大大减少了重新设计现有ATE基础设施的需要。
53100A相位噪声分析仪使用非常灵活,可以通过前面板访问参考设备,频率标准可以和被测设备不同,这样不同的振荡器可以用同一个参考来表征。可作为参考的设备有铷原子频标(如微芯片的8040C-LN)或应时振荡器(如微芯片的1000C恒温控晶体振荡器(OCXO)),也支持其他厂家的精密振荡器产品。

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