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将ADuM4135栅极驱动器与Microsemi APTGT75A120T1G 1200 V IGBT模块配合使

2020-12-02 10:01:31
绝缘栅双极晶体管(IGBT)是一种适合高电压应用的高性价比解决方案,例如车载充电器、非车载充电器、DC-DC快速充电器、开关模式电源(SMPS)应用。开关频率范围:DC至100千赫。IGBT可以是单个器件,甚至是半桥器件,如图1所示。
本应用笔记中描述的设计中的APGT  75A  120 IGBT是一种快速沟槽器件,采用Microsemi公司专有的现场隔膜IGBT技术。IGBT器件还具有低尾电流、高达20千赫的开关频率和软恢复并联二极管,由于对称设计,杂散电感低。所选IGBT模块的高度集成可以在高频下提供最佳性能,并且具有低结壳热阻。
ADI公司的栅极驱动技术用于驱动IGBT。ADuM4135栅极驱动器是一款单通道器件,在25 V  (VDD至VSS)的工作电压下,典型驱动能力为7 A源电流和吸电流。该器件的最小共模瞬变抗扰度(CMTI)为100千伏/微秒。ADuM4135可以提供高达30伏的正向电源,因此15伏电源足以满足该应用。
测试设置
电气设置
显示了系统测试电路如图2的电气设置。半桥两端的输入端施加DC电压,输入级增加一个900F(C1)解耦电容。输出级是一个200 H  (L1)和50 F  (C2)的电感电容(LC)滤波器级,它对输出进行滤波,并将其传输到2 至30 的负载(R1)。表1详细说明了电源设备的测试设置。U1是DC高压和高压电源,T1和T2是单IGBT模块。
空载试验
在空载测试设置中,模块输出端的输出电流较低。在这种应用中,使用30 电阻。
将ADuM4135栅极驱动器与microsemi  apt  gt75a  120 t1 g  1200v  IGBT模块配合使用
1 VDC是HV,高压电压。
2 IIN代表通过U1的输入电流。
1所有温度都由热像仪记录。
2从变压器测量。
开关IGBT性能图
负荷试验
测试配置类似于图2所示的测试设置。表5总结了观察到的结果,图11至16显示了不同电压、频率和负载下的测试性能和结果。
测试4在200伏、10千赫开关频率和25%占空比下进行。测试5在600伏、10千赫开关频率和25%占空比下进行。测试6在900伏、10千赫开关频率和25%占空比下进行。
1 IOUT是负载电阻R1中的输出电流。
2 VOUT是R1两端的输出电压。
3 POUT为输出功率(IOUT   VOUT)。
开关IGBT性能图及空载试验
大电流测试
测试配置类似于图3所示的物理设置。表6总结了观察到的结果,图17至20显示了不同电压、频率和负载下的测试性能和结果。
输出负载的电阻因每次测试而异,如表1所示,其中2 至30 负载用于改变电流。测量VOUT,它是R1两端的电压。
测试7在300伏、10千赫开关频率和25%占空比下进行。测试8在400伏、10千赫开关频率和25%占空比下进行。
1引脚为输入电源(IIN  车辆识别号),其中车辆识别号为DC电源电压。
交换IGBT的性能图和负载测试
本部分的测试结果给出了不同目标电压下的开关波形。

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