研发测试工程师不可忽视的探头选择，随附超2000种选型目录

计算机系统中组件和系统的测试和诊断带来了许多特殊的挑战。有时很难连接所需的准确测试点。高密度、多层电路板和带有小引脚的密集元件使得电压表的检测非常困难。当系统运行时，轻轻滑动探头可能会导致灾难性短路。测试和测量的目的是发现和修复问题，避免造成更严重的损害。
这个问题有很多解决方法。接下来，我们将讨论一些可用于检查安装在电路板上的设备和组件的方法。
单点探针是最常见和最明显的检测方法。大多数数字万用表(DMM)提供一组测试线，这对各种测试场景非常有用。这种类型的探头非常适合检查电源电压或检查备用电池。然而，这些探针中的大多数对于高密度电路板来说太大了。这些探针很容易滑动、损坏其他部件或导致短路。这个DMM探头上的探头直径一般在0.080”左右，接触不尖锐。另外，由于日常磨损，探头是圆形的，这几乎是不可能完成的任务。这些探针可以削尖，但如果没有外部涂层，底层金属很容易迅速变色。
连接高密度电路板上的小接触点的最好方法是使用非常锋利的探针。虽然针尖探头容易损坏，但由于缺乏涂层，很容易重新锐化。许多制造商为探针提供易于更换的尖端探针。不锈钢尖端探针的初始直径为0.080英寸，并逐渐变细以形成极尖。另一个探头从直径为0.040”的不锈钢开始，逐渐形成一个长而尖的探头。这种探头也适用于狭小的空间，而且锋利不易滑落。
另一种多用途工具是带有伸缩探针的探针。这些探针由直径非常小(0.040’)的不锈钢丝制成，除了探针的最末端，通常覆盖有绝缘层，可以防止意外接触。有了这样的探头，探头的范围可以扩大到3英寸。细长探头除了用于难以到达的测试点外，还有利于提高测试点的可视性。
不锈钢是制造尖锐触点的好材料，但它是电导体的坏选择。此外，重复研磨后，探头可能会磨损，变得太短，无法检测狭窄的空间。新探头当然可以更换，但还是不能解决不锈钢固有电阻的问题。这个问题是有解决办法的。精密电子探针采用标准自动测试设备(ATE)探针，因其探针而常被称为“弹簧针”。这种弹簧针有多种配置，可以随时使用。事实上，许多用户可能已经在他们的生产测试领域找到了这种探针。这种探头不仅有可更换的探头，而且非常小，足以穿透比全尺寸探头更窄的空间。
目前很多公司提供带有微型线钩和引脚的IC测试夹，非常薄，适合一些最小的元器件引脚。这些线钩测试夹可以以3毫米的焊接间距连接到QFP封装中的元件。甚至多达5或6个测试夹可以并排连接到相邻的0.5毫米芯片引脚。只要不需要同时连接太多引脚，这些测试夹就是满足要求的完美选择。
IC测试夹是测试IC芯片上大量引脚的理想解决方案，也非常适合在众多引脚中寻找一个引脚。当引脚较多时，很容易混淆芯片一侧的引脚号。使用IC测试夹具，可以在不损坏芯片的情况下，可靠地连接多个待测芯片引脚。集成电路测试夹具适用于从DIP到QFP的大多数芯片封装。
集成电路测试夹具还解决了许多其他问题。如果你需要连接QFP芯片的所有引脚呢？当然，你可以把短引线焊接到每个芯片引脚上，然后用上面提到的小挂钩把引线连接起来。这是完全可能的，但是将这些微小的导线焊接到芯片上需要花费大量的时间。另外，如何解释微处理器上的新“毛”？那么，如何连接到芯片呢？答案是IC测试夹具有一个适合大多数主流IC芯片的IC测试夹具。这些测试夹适合安装在芯片顶部，每个芯片引脚都有一个接触点。测试夹还有一组编号的触针，支持与逻辑分析仪或示波器的大量连接。
大多数人很少关注测试线，直到为时已晚。那么我们需要了解哪些关于检测线和探针的信息呢？最重要的因素是安全问题、材料和所需的精度。例如，安全性经常被忽视。如果你的工作仅限于30V以下的电子电路，那么测试线的设计就不会有安全问题。如果您需要在较高电压或配电线路附近使用测试线路，您需要使用具有正确标识和额定值的测试线路。
测试线使用的材料会影响读数。如果您试图测量极低的电压(如微伏范围)或极低的电阻，制造测试线中使用的异种金属会引入误差，使其难以跟踪。不同金属之间的接触会起到热电偶的作用，热电偶本身会产生电压。专为低电压测量设计的低热势电动势测试线，可以将测量路径上微小温差造成的误差降到最低。这些测试线稍微贵一些，但是可以提供高精度的电压和电阻测量，可以达到小数点后6位。
作为苹果电子的授权经销商，海林德可以为市场提供相关的服务和支持。此外，海林德还供应来自世界上许多顶级制造商的产品，涵盖25个不同的组件类别，关注所有细分市场和所有客户，并不断寻求涵盖所有市场的广泛产品供应。