MVG发布MiniLAB系统新功能为在LTE设备上测量RSE提供了全新方

2020-12-01 09:28:14

创新天线测试技术的领先系统制造商—— 法国微波视觉集团(以下简称MVG)最近宣布，在其广受欢迎的MiniLAB系统中集成了RSE和无源天线测量功能。MiniLAB系统不仅可以进行高精度的OTA测试，还可以提供被动测量，为LTE设备上的RSE测量提供了一种新的方案。

在无源天线测量中，MiniLAB的电子扫描多探头阵列封装在高隔离暗室中，可以加快测量速度，为直径为30 cm *的被测器件绘制天线辐射图，是优化各种器件天线性能的理想解决方案。

辐射杂散辐射是指受测设备(DUT)的所有非基本辐射。高水平辐射发射会给某些无线产品带来功能挑战，干扰其他无线设备或无线电力系统，或改变设备本身的运行效率。

为此，国际电信联盟(ITU)、欧洲的无线电力和电信终端设备指令(RTTE)以及联邦通信委员会(FCC)等标准化组织对无线设备的RSE测量提出了严格的测试要求。这些测试要求旨在消除被测设备附近有其他无线设备时的干扰风险。

过去RSE是通过垂直扫描机械运动来测量的，以便在方位角旋转时对设备进行监控。但和很多传统测试方法一样，在设计和生产过程中非常耗时，上市时间对厂商来说非常重要。

与其他主动设备相比，MiniLAB采用多探头技术，为LTE等主动设备提供了全新的RSE测试方案。在提供准确稳定数据的同时，可以更快、更详细、更经济地解决企业的RSE测试需求。

MiniLAB可以大大缩短测量时间，提交精确的测量数据，其集成的多探头阵列采用电子扫描测量无线设备，使用户在高达6 GHz的LTE频段更容易、更快速地测量RSE。RSE测量结果可在测量完成后20秒内获得。

微型实验室配备了一个全消声室屏蔽，性能为100分贝，高动态范围，可以测量发射的无线信号和周围发射的峰值水平，而不会造成任何失真。

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